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IoT時代のテク・ベンチャーと試作・評価プラットフォーム ‐2.5D化/プリント化とBigData応用例‐

第420回 STEP研究会開催のご報告
開催日時 平成27年11月18日(水) 15:00~17:00
場所 経済研究所 会議室
テーマ IoT時代のテク・ベンチャーと試作・評価プラットフォーム ‐2.5D化/プリント化とBigData応用例‐
講師 経済研究所 研究員 井上 弘基
内容 80年代の「ME革命」では日本は世界突出的に、FA(NC)、OA等を伸した。今後のIoTは特定領域というよりも多様なサービスが見込まれるが、一部に「申し子」的な技術も出ると思われる。一般にAI/Big Data(センター)〜スマホ/センサ(エッジ/ノード)といったタテつながりの中で、センサ等の末端系デバイスは儲りづらい領域だが(安価・多種少量)、多種性を突破して、2.5Dパッケージング、プリント化、BigData応用等で、テク・ベンチャーの成功可能性がある。 ここでは例として、2.5Dパッケージング、3Dナノ・インプリント等のプリント化技術、ミニマルファブ、アプリケーション別BigData関連ソフト等、主に加工関連技術での事業化可能性を取上げ、それらが国内での試作開発を活発化し、イノベーションを促進すること、多種のノード(モジュール)を比較的安価に実現する点に注目したい。また試作品の「評価」(保証)がなければ商品にならないことから、評価、測定、検査についても言及したい。
<参加人数>16名