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技術研究所
【満員御礼】Ｂ．破断面解析
- 定員になりました。
- 開催日時：平成27年6月15日(月) 13:15～16:30
- 定員：1～5名／1コマ
- 担当：天田勝正
部品などが損傷した場合、その破断面には損傷原因に起因した破面形態が形成されることが多く、破面を観察することで損傷原因を推定することができます。本講座では巨視的および微視的な破面形態について走査電子顕微鏡などでの観察を交えながら紹介します。
プログラム
| １． | 講義 | |
| ◎ | 損傷の分類 | |
| ◎ | 破断面形態の解説 | |
| ・マクロ(巨視的）破面形態 | ||
| ・マイクロ(微視的）破面形態 | ||
| ◎ | 破面解析 | |
| ・損傷の起点の確認 | ||
| ・損傷原因の推定 | ||
| ◎ | 使用装置 | |
| ・走査電子顕微鏡 | ||
| ・実体顕微鏡 | ||
| ２． | 実習 | |
| 走査電子顕微鏡を用いて破面観察を体験していただきます。 また、観察したい試料があれば破面観察も行います。（事前にご相談下さい） | ||
| ３． | 質疑応答（適宜） | |
担当者よりコメント
手軽にできるマクロ破面観察である程度の損傷原因が推定できます。
この研修時に観察したい試料があればご持参ください（その場合、サンプリングなどの関係がありますので事前にご連絡を願います）！
